Tag Archives:: Pticografía de rayos X

Los microchips actuales se fabrican a escala nanométrica. La pticografía-tomografía de rayos-X computerizada (PXCT) permite obtener imágenes 3D del interior del circuito integrado. Se publica en Nature el último avances en PXCT de alta resolución, que alcanza una resolución inferior a 14,6 nanómetros para microchips fabricados con tecnología de 22 nanómetros. La técnica PXCT en este contexto tiene como […]